Rasterelektronenmikroskopie - DotLine GmbH

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Rasterelektronenmikroskopie


Instrument

FEI Quanta 400 ESEM

• Sekundärelektronen-Detektor (SE)
• Back-scatter Detektor (BS)
• Hochvakkum Modus
• Niedervakuum Modus
• Environmental Modus (bis 20mBar)
• Sputter-Coater (für nichtleitende Proben)
• Grosse Probenkammer (375mm Durchm.)



REM Bronze
REM Lampe
         

Einsatzgebiete

  • Forschung und Entwicklung
  • Produktion
  • Schadensanalyse
  • Qualitätssicherung
  • Identifizierung von kleinen Objekten
  • Biologie, Gartenbau
  • Analyse von Stäuben, Luftschadstoffen, Pollen
  • Beschichtungsfehler
  • Oberflächenuntersuchungen
    • Morphologie
    • Rauhigkeit
    • 3D-Profile

Strukturanalyse

    • Vermessung kleiner Strukturen
    • Identifizierung von
      • Verunreinigungen,
      • Einschlüssen,
      • Korrosion
    • Identifizierung von Materialschäden
      z.B. Mikrorissen, Beschädigungen
    • Partikelanalyse
      • Vermessung von Partikeln, Löchern
      • Größenklassifizierung
      • Morphologie

REM Eierschale
REM Stecker

Weitere Einsatzgebiete:

    • Sedimentanalysen
    • z.B. Verunreinigungen in Wasserkreisläufen
    • Kristallbildungen
    • Ablagerungen
    • Fremdstoffe in Schmierflüssigkeiten
  • Biologische Proben
    • bei Niedrigvakuum bzw. ESEM-Modus mit 20mBar Wasserdampfatmosphäre
    • Filtration von Proben auf Nuclepore-Trägern
  • Auf Anfrage:  Elementaranalyse (EDX)
    • elementare Zusammensetzung
    • Elemental mapping (Karten der elementaren Zusammensetzung)
Bei Interesse und Fragen, rufen Sie uns bitte einfach an (Kontaktdaten siehe unten).
Wir stehen Ihnen gerne auch kurzfristig für eine kostenlose Erstanalyse zur  Verfügung.

Weitere Informationen zu diesem Produkt finden Sie in unserem Downloadbereich.

Dr. Christoph Bittner
Tel.: 0521 238 312-18
E-Mail: cb@dot-line.de
DotLine GmbH
Ludwig-Erhard-Allee 49
D-33719 Bielefeld
Germany
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Phone +49 521 238312 - 0
Mail Info@dot-line.de
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